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X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H

X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H

Artikelnummer: all20262221
Kategorie: Röntgeninspektion

X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H

Das X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H ist ein leistungsstarkes Offline-Röntgeninspektionssystem für die zerstörungsfreie Prüfung von Leiterplatten, SMD-Bauteilen, Halbleitern und elektronischen Baugruppen. Mit seiner 110-kV-Mikrofokus-Röntgenquelle, einer Fokusgröße von 5 µm und einem hochauflösenden Flat-Panel-Detektor (FPD) ermöglicht das System eine präzise Analyse verdeckter Strukturen, Lötstellen und elektronischer Komponenten. Die Kombination aus hoher Vergrößerung, 360°-Drehtisch und Schrägansichten macht das AX8300H zur idealen Lösung für Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Prozessoptimierung in der Elektronikfertigung.

Vorteile auf einen Blick

  • Zerstörungsfreie Prüfung elektronischer Baugruppen und Komponenten
  • 110-kV-Mikrofokus-Röntgenquelle mit 5 µm Fokusgröße
  • Hochauflösender Flat-Panel-Detektor (FPD) für digitale Echtzeitbildgebung
  • Systemvergrößerung bis zu 1000×
  • 360°-Drehtisch für flexible Inspektionswinkel
  • Schrägansichten zur Analyse verdeckter Lötstellen
  • Zuverlässige Erkennung von Voids, Lötfehlern, Rissen und Kurzschlüssen
  • Ideal für BGA-, QFN-, CSP- und SMT-Inspektionen
  • Geeignet für Qualitätskontrolle, Forschung und Failure Analysis
  • Benutzerfreundliche Software für effiziente Prüfabläufe

X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H

Das X-Ray Mikrofokus-Röntgenprüfsystem AX8300H ist ein leistungsstarkes Offline-Röntgeninspektionssystem für die zerstörungsfreie Prüfung von Leiterplatten, SMD-Bauteilen, Halbleitern und elektronischen Baugruppen. Mit seiner 110-kV-Mikrofokus-Röntgenquelle, einer Fokusgröße von 5 µm und einem hochauflösenden Flat-Panel-Detektor (FPD) ermöglicht das System eine präzise Analyse verdeckter Strukturen, Lötstellen und elektronischer Komponenten. Die Kombination aus hoher Vergrößerung, 360°-Drehtisch und Schrägansichten macht das AX8300H zur idealen Lösung für Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Prozessoptimierung in der Elektronikfertigung.

Vorteile auf einen Blick

  • Zerstörungsfreie Prüfung elektronischer Baugruppen und Komponenten
  • 110-kV-Mikrofokus-Röntgenquelle mit 5 µm Fokusgröße
  • Hochauflösender Flat-Panel-Detektor (FPD) für digitale Echtzeitbildgebung
  • Systemvergrößerung bis zu 1000×
  • 360°-Drehtisch für flexible Inspektionswinkel
  • Schrägansichten zur Analyse verdeckter Lötstellen
  • Zuverlässige Erkennung von Voids, Lötfehlern, Rissen und Kurzschlüssen
  • Ideal für BGA-, QFN-, CSP- und SMT-Inspektionen
  • Geeignet für Qualitätskontrolle, Forschung und Failure Analysis
  • Benutzerfreundliche Software für effiziente Prüfabläufe
Stk